Repository logo
Patent

Sposób elektrooptycznego wykrywania i pomiaru deformacji liniowych oraz układ pomiarowy do stosowania tego sposobu opis patentowy nr 64065

Thumbnail Image

Files

PL64065B1.pdf (612.07 KB)

Relation

Date

1971-12-20

Editor

Authors

Access rights

Access: otwarty dostęp
Rights: Public Domain
Public Domain

Public Domain

Other title

Resource type

patent, opis patentowy

Call number

Edition/work details

Institution: Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica (Kraków)
Publisher: Urząd Patentowy PRL

Patent ID

PL 64065 B1

IPC Classification

42k 27
G01B 5/30

Description

Zgłoszono 24 maja 1968 r.
Nr zgłoszenia P 127146

Keywords

Abstract

Access rights

Access: otwarty dostęp
Rights: Public Domain
Public Domain

Public Domain

URI

https://repo.agh.edu.pl/handle/AGH/55611

Collections

Opisy patentowe