Analiza obwodów drukowanych za pomocą parsera struktur grafowych

Abstract

W ramach rozprawy opracowana została metoda efektywnego powiązania analizatora syntaktycznego struktur drzewowych z analizatorem syntaktycznym struktur grafowych w oparciu o gramatyki EDTG i ETPL(k). Na tej podstawie opracowany został analizator syntaktyczny złożonych klas obrazów działający w złożoności czasowej $O(n^{2})$, gdzie n oznacza łączną ilość wierzchołków grafowych w TGraph. W ramach realizacji powyższego celu zdefiniowana została struktura reprezentacji obrazów o nazwie TGraph oraz klasa gramatyk regularnych pm-TLEDTG(n, k), a także zaprojektowany został analizator syntaktyczny struktur TGraph. Praktyczna użyteczność opracowanego formalizmu opisu TGraph oraz analizatora syntaktycznego zaprezentowana została w ramach aplikacji AOI (ang. Automatic Optical/Visual Inspection) ukierunkowanej na wsparciu kontroli jakości procesów produkcyjnych PCB (ang. Printed Circuit Board) - aplikacja INSPEKTOR.