Repository logo
Thesis

Ekstrakcja rezystancji termicznej tranzystorów bipolarnych na podstawie pomiarów napięcia Early'ego

dc.contributor.authorBihuniak, Piotr
dc.contributor.departmentWydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
dc.contributor.reviewerOstrowski, Jacek
dc.contributor.supervisorKoprowski, Jan
dc.date.available2015-04-11T10:25:01Z
dc.date.defence2013-03-22
dc.date.submitted2013-02-15
dc.description.tableofcontentsoprogramowanie
dc.description.tableofcontentsfotografie
dc.description.tableofcontentsschemat systemu pomiarowego
dc.description.typepraca magisterska
dc.identifier.urihttps://repo.agh.edu.pl/handle/AGH/3777
dc.language.isopol
dc.rightsAccess rights reserved
dc.rights.accesszastrzeżony dostęp
dc.rights.accessNoteZarządzenie Rektora AGH
dc.rights.urihttps://repo.agh.edu.pl/info/restricted-access
dc.titleEkstrakcja rezystancji termicznej tranzystorów bipolarnych na podstawie pomiarów napięcia Early'egopl
dc.title.alternativeExtraction of BJT thermal resistance from Early voltage measurementsen
dc.typepraca dyplomowa
dspace.entity.typePublication
thesis.degree.disciplineElektronika i Telekomunikacja (WIEiT)pl
thesis.degree.formOfStudyniestacjonarnepl
thesis.degree.grantorAkademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowiepl
thesis.degree.levelstudia drugiego stopniapl
thesis.degree.namemagister inżynierpl
thesis.description.otherinfoCorrect – DRS, courseIDpl
thesis.identifier.dxp99493
thesis.statusORPDORPPD1_sent

Files