Repository logo
Thesis

Zastosowanie tomografii FIB-SEM do obrazowania i analizy ilościowej elementów mikrostruktury w nadstopie ATI 718Plus po długotrwałym wyżarzaniu

dc.contributor.authorZadora, Maciej
dc.contributor.departmentWydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
dc.contributor.reviewerCempura, Grzegorz
dc.contributor.supervisorKruk, Adam
dc.date.available2020-07-31T09:33:19Z
dc.date.defence2020-07-24
dc.description.typepraca magisterska
dc.identifier.urihttps://repo.agh.edu.pl/handle/AGH/95231
dc.language.isopol
dc.rightsAccess rights reserved
dc.rights.accesszastrzeżony dostęp
dc.rights.accessNoteBrak zgody na udostępnienie pracy w czytelni Biblioteki Wydziałowej
dc.rights.urihttps://repo.agh.edu.pl/info/restricted-access
dc.subjecttomografiapl
dc.subjectFIB-SEMpl
dc.subjectrekonstrukcjapl
dc.subject3Dpl
dc.subjectmikrostrukturapl
dc.subjectnadstoppl
dc.subjectnikielpl
dc.subjectATI 718Pluspl
dc.titleZastosowanie tomografii FIB-SEM do obrazowania i analizy ilościowej elementów mikrostruktury w nadstopie ATI 718Plus po długotrwałym wyżarzaniupl
dc.title.alternativeApplication of FIB-SEM tomography for imaging and quantitative analysis of microstructure elements in the ATI 718Plus superalloy after long-term annealingen
dc.typepraca dyplomowa
dspace.entity.typePublication
thesis.degree.disciplineInżynieria Materiałowa (WIMiIP)pl
thesis.degree.fieldOfStudyInstanceCode13623
thesis.degree.formOfStudystacjonarnepl
thesis.degree.grantorAkademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowiepl
thesis.degree.levelstudia drugiego stopniapl
thesis.degree.namemagister inżynierpl
thesis.identifier.dxp269346
thesis.statusORPDORPPD2_migrated

Files