Symulacje transportu elektronowego w jednowarstwowych dichalkogenkach metali przejściowych: mikroskopia bramki skanującej
| dc.contributor.author | Prokop, Michał | |
| dc.contributor.department | Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej | |
| dc.contributor.reviewer | Madej, Łukasz | |
| dc.contributor.supervisor | Nowak, Michał | |
| dc.date.available | 2019-08-09T09:51:11Z | |
| dc.date.defence | 2019-07-11 | |
| dc.description.type | praca magisterska | |
| dc.identifier.uri | https://repo.agh.edu.pl/handle/AGH/76009 | |
| dc.language.iso | pol | |
| dc.rights | AGH Licence (Thesis) - Fair Use | |
| dc.rights.access | otwarty dostęp | |
| dc.rights.accessNote | Brak zgody na udostępnienie pracy w czytelni Biblioteki Wydziałowej | |
| dc.rights.uri | https://repo.agh.edu.pl/info/licence-agh-thesis | |
| dc.subject | mikroskopia bramki skanującej | pl |
| dc.subject | dichalkogenki metali przejściowych | pl |
| dc.subject | MoS2 | pl |
| dc.subject | Kwant | pl |
| dc.subject | tight-binding | pl |
| dc.subject | transport elektronowy | pl |
| dc.title | Symulacje transportu elektronowego w jednowarstwowych dichalkogenkach metali przejściowych: mikroskopia bramki skanującej | pl |
| dc.title.alternative | Simulations of electronic transport in monolayer transition metal dichalcogenides: scanning gate microscopy | en |
| dc.type | praca dyplomowa | |
| dspace.entity.type | Publication | |
| thesis.degree.discipline | Informatyka Stosowana (WIMiIP) | pl |
| thesis.degree.formOfStudy | stacjonarne | pl |
| thesis.degree.grantor | Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie | pl |
| thesis.degree.level | studia drugiego stopnia | pl |
| thesis.degree.name | magister inżynier | pl |
| thesis.identifier.dxp | 257160 | |
| thesis.statusORPD | ORPPD1_sent |