Projekt obwodu do testowania układu scalonego na poziomie wafera
Loading...
Defence Date
2020-01-27
Authors
Supervisors:
Reviewers:
Access rights
Access: otwarty dostęp
Access details: Brak zgody na udostępnienie pracy w czytelni Biblioteki Wydziałowej
Other title
Design of the wafer probe card
Resource type
Defence details
Degree Grantor: Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie
Course: Mikroelektronika w Technice i Medycynie (WEAIiIB)
Form of study: stacjonarne
Degree level: studia pierwszego stopnia
Degree name: inżynier
Description
Keywords
Abstract
Access rights
Access: otwarty dostęp
Access details: Brak zgody na udostępnienie pracy w czytelni Biblioteki Wydziałowej