Projekt obwodu do testowania układu scalonego na poziomie wafera
| dc.contributor.author | Wincencik, Tomasz | |
| dc.contributor.department | Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej | |
| dc.contributor.reviewer | Kmon, Piotr | |
| dc.contributor.supervisor | Kasiński, Krzysztof | |
| dc.date.available | 2020-02-11T12:47:25Z | |
| dc.date.defence | 2020-01-27 | |
| dc.description.type | praca inżynierska | |
| dc.identifier.uri | https://repo.agh.edu.pl/handle/AGH/83077 | |
| dc.language.iso | pol | |
| dc.rights | AGH Licence (Thesis) - Fair Use | |
| dc.rights.access | otwarty dostęp | |
| dc.rights.accessNote | Brak zgody na udostępnienie pracy w czytelni Biblioteki Wydziałowej | |
| dc.rights.uri | https://repo.agh.edu.pl/info/licence-agh-thesis | |
| dc.subject | PCB | pl |
| dc.subject | układ scalony | pl |
| dc.subject | wafer | pl |
| dc.title | Projekt obwodu do testowania układu scalonego na poziomie wafera | pl |
| dc.title.alternative | Design of the wafer probe card | en |
| dc.type | praca dyplomowa | |
| dspace.entity.type | Publication | |
| thesis.degree.discipline | Mikroelektronika w Technice i Medycynie (WEAIiIB) | pl |
| thesis.degree.fieldOfStudyInstanceCode | 7663 | |
| thesis.degree.formOfStudy | stacjonarne | pl |
| thesis.degree.grantor | Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie | pl |
| thesis.degree.level | studia pierwszego stopnia | pl |
| thesis.degree.name | inżynier | pl |
| thesis.identifier.dxp | 227964 | |
| thesis.statusORPD | ORPPD2_migrated |