Repository logo
Patent

Układ pomiarowy do defektoskopu magnetycznego opis patentowy nr 86670

dc.contributor.authorKawecki, Zygmunt
dc.contributor.authorStachurski, Juliusz
dc.contributor.authorKibiński, Jacek
dc.contributor.authorTwardosz, Stanisław
dc.contributor.institutionAkademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica (Kraków)
dc.date.available2020-05-13T09:00:47Z
dc.date.issued1978-11-30
dc.descriptionZgłoszono 7 listopada 1973 r.
dc.descriptionZgłoszenie ogłoszono 1 listopada 1974 r.
dc.descriptionNr zgłosz. P 166403.
dc.description.typeopis patentowy
dc.description.versionwersja wydawnicza
dc.identifier.standardPL 86670 B1
dc.identifier.urihttps://repo.agh.edu.pl/handle/AGH/92720
dc.language.isopol
dc.publisherUrząd Patentowy PRL
dc.rightsPublic Domain
dc.rights.accessotwarty dostęp
dc.rights.urihttps://repo.agh.edu.pl/info/public-domain
dc.subject.sknG01n 27/82
dc.titleUkład pomiarowy do defektoskopu magnetycznego opis patentowy nr 86670pl
dc.typepatent
dspace.entity.typePublication

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
PL86670B1.pdf
Size:
1009.28 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Opis patentowy

Collections