Repository logo
Patent

Układ pomiarowy do defektografów opis patentowy nr 55405

dc.contributor.authorStachurski, Juliusz
dc.contributor.institutionAkademia Górniczo-Hutnicza (Kraków). Katedra Maszyn i Urządzeń Górniczych
dc.date.available2017-11-06T09:25:08Z
dc.date.issued1968-05-30
dc.descriptionZgłoszono 17 lipca 1967 r.
dc.descriptionNumer zgłosz. P 121739
dc.description.typeopis patentowy
dc.description.versionwersja wydawnicza
dc.identifier.standardPL 55405 B1
dc.identifier.urihttps://repo.agh.edu.pl/handle/AGH/53186
dc.language.isopol
dc.publisherUrząd Patentowy PRL
dc.rightsPublic Domain
dc.rights.accessotwarty dostęp
dc.rights.urihttps://repo.agh.edu.pl/info/public-domain
dc.subject.skn42k 46/03
dc.subject.sknG01N 27/82
dc.titleUkład pomiarowy do defektografów opis patentowy nr 55405pl
dc.typepatent
dspace.entity.typePublication

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
PL55405B1.pdf
Size:
336.24 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Opis patentowy

Collections