Repository logo
Patent

Układ pomiarowy do defektografów opis patentowy nr 55405

Loading...
Thumbnail Image

Relation

Editor

Access rights

Access: otwarty dostęp
Rights: Public Domain
Public Domain

Public Domain

Other title

Resource type

Call number

Edition/work details

Publisher: Urząd Patentowy PRL

Patent ID

PL 55405 B1

IPC Classification

42k 46/03
G01N 27/82

Description

Zgłoszono 17 lipca 1967 r.
Numer zgłosz. P 121739

Keywords

Abstract

Access rights

Access: otwarty dostęp
Rights: Public Domain
Public Domain

Public Domain

Collections